Nauka dla Społeczeństwa

30.04.2024
PL EN
17.10.2022 aktualizacja 17.10.2022

Ekspert: w przemyśle i nauce nie jesteśmy w stanie wiele osiągnąć bez metrologii

źródło: Adobe Stock źródło: Adobe Stock

Ani w przemyśle, ani w nauce bez metrologii nie jesteśmy w stanie wiele osiągnąć, bo żeby odkryć coś nowego to trzeba to zmierzyć - powiedział PAP dyrektor biura Polskiej Unii Metrologicznej prof. Jerzy Józwik, współorganizator Międzynarodowej Konferencji Metrologicznej 17-19 października br. w Lublinie.

Prof. Józwik, zapowiadając Międzynarodową Konferencję Metrologiczną "New Trends in Metrology 2022", która odbędzie się 17-19 października br. w Lublinie podał, że udział w wydarzeniu zapowiedziało 250 osób, w tym przedstawiciele świata nauki, biznesu, Głównego Urzędu Miar oraz Głównego Urzędu Statystycznego.

Na pytanie PAP o kierunki rozwoju metrologii, jako nauki o miarach, systemach mierzenia i przyrządach pomiarowych ekspert wskazał sztuczną inteligencję, która wkracza w obszary algorytmów pomiarowo-kontrolnych i diagnostycznych, a także automatyzację pomiarów i procedur wnioskowania związanych z interpretacją wyników pomiarów.

"Metrologia zmierza w kierunku pomiarów bezkontaktowych, dynamicznych pomiarów online" – powiedział prof. Józwik. Podkreślił rolę metrologii, która funkcjonuje m.in. w chemii, medycynie i przemyśle. "Bez metrologii nie da się produkować, wytwarzać na wysokim poziomie" - dodał.

"Ani w przemyśle, ani w nauce, bez metrologii nie jesteśmy w stanie wiele osiągnąć, bo dzisiaj, żeby odkryć coś nowego, to trzeba to zmierzyć. Metody bezkontaktowe, bezinwazyjne, które dzisiaj mamy do dyspozycji, zaczynają dominować i wypierają techniki dotykowe, co wcale nie oznacza, że są precyzyjniejsze i lepsze" – wyjaśnił.

Odpowiadając na pytanie o miejsce polskiej metrologii w świecie stwierdził, że jej pozycja jest bardzo wysoka. "Mamy duży dostęp do najnowszych osiągnięć i technologii, z których korzystamy i potrafimy w sposób kreatywny wykorzystać do tworzenia nowych systemów pomiarowych" - wyjaśnił.

Mówiąc o Międzynarodowej Konferencji Metrologicznej wskazał, że jej celem jest nie tylko dyskusja ekspertów z udziałem akademickiego świata nauki, ale też propagowanie wiedzy o metrologii, integracja świata nauki i otwarcie na przemysł.

Organizatorzy podali w komunikacie, że podczas konferencji dyskutowana będzie m.in. ocena wpływu współczesnej metrologii na gospodarkę, szczególnie metrologii aplikacyjnej oraz identyfikacja kierunków jej rozwoju w zakresie badań naukowych i wdrożeń. Eksperci rozmawiać będą o możliwości aplikacji wyników badań w przemyśle, zagadnieniach związanych z procedurą sprawdzania liczników energii podczas legalizacji, niepewnością pomiaru we współrzędnościowej technice pomiarowej, a także poświęcą uwagę aspektom metrologicznym w akredytowanym laboratorium badawczym. Wydarzenie będzie również okazją do zaprezentowania dalszych działań Polskiej Unii Metrologicznej, która została utworzona w sierpniu ub. r., a jej biuro znajduje się na Politechnice Lubelskiej.

Otwarcie konferencji odbędzie się w poniedziałek o godz. 10 w Lubelskim Centrum Konferencyjnym (sala S2). O godz. 11 zaplanowano podpisanie umów o współpracy w ramach Klastra Metrologicznego. Natomiast wystąpienie ministra edukacji i nauki prof. Przemysława Czarnka przewidziano o godz. 14:30.

Jednym z patronów medialnych konferencji jest Polska Agencja Prasowa. Szczegóły dotyczące wydarzenia na stronie konferencji https://konferencja-pum.pollub.pl/.

Organizatorami wydarzenia są Politechnika Lubelska i Główny Urząd Miar.

Nauka w Polsce, Piotr Nowak

pin/ aszw/

Przed dodaniem komentarza prosimy o zapoznanie z Regulaminem forum serwisu Nauka w Polsce.

Copyright © Fundacja PAP 2024